Eley Metrology Micro-Vertex MKIII

Beskrivelse

Præcis måling af mikroskopiske geometrier – gjort enkelt

 

Micro-Vertex MKIII fra Eley Metrology er et kompakt målesystem til måling af komplekse emner.

Systemet er velegnet til kvalitetskontrol i industrielle miljøer, hvor stabilitet, repeterbarhed og dokumentation er vigtige parametre.

Kort om Micro-Vertex MKIII

Micro-Vertex MKIII er udviklet til måleopgaver, hvor traditionelle kontaktbaserede metoder enten er upraktiske eller risikerer at påvirke emnet.
Løsningen understøtter en ensartet måleproces og bidrager til mere pålidelige måleresultater, både i produktion og i laboratoriemiljøer.

Nøgleegenskaber:

  • Motorstyret aftastning (ensartet måletryk)
  • Høj gentagelsesnøjagtighed
  • Stabil og kompakt konstruktion
  • Velegnet til dokumentation og sporbarhed i kvalitetskontrol
  • Nem integration i eksisterende kvalitetsprocesser

 

Anvendelsesmuligheder

Micro-Vertex MKIII bruges typisk i forbindelse med:

  • Kvalitetskontrol i produktionen
    Løbende kontrol af kritiske dimensioner og geometrier på små emner.
  • Måling af følsomme komponenter
    Hvor kontaktmåling kan give risiko for deformation eller slid.
  • R&D og prototypeudvikling
    Verifikation af geometri og tolerancer tidligt i udviklingsforløbet.
  • Laboratoriemålinger
    Repeterbare målinger med dokumentation til rapportering og audit.
  • Fejlsøgning og procesoptimering
    Understøtter analyse af afvigelser og variation i produktionen.

 

Service & support

Vi tilbyder service og support på Micro-Vertex MKIII som en del af vores løsning.
Det betyder, at I ikke står alene med udstyret, hverken ved opstart eller i den daglige drift.

Vi hjælper blandt andet med:

  • Rådgivning om korrekt konfiguration til jeres opgaver
  • Installation og idriftsættelse
  • Introduktion og oplæring af brugere
  • Løbende support og teknisk sparring
  • Serviceaftaler og vedligehold efter behov

 

Målet er at sikre, at udstyret bliver anvendt korrekt, og at I får stabile og pålidelige måleresultater over tid.

Pris: 19.995 kr.

Vil du høre mere?

Kontakt os, hvis du vil vide om Micro-Vertex MKIII passer til jeres måleopgaver – eller hvis du ønsker en gennemgang af mulighederne.

Specifikationer

Technical data MV 300/600 MV 500/850 MV 750/1100 MV 1000/1350
Motorised Operation all models
Resolution .001mm/
.0005”
.001mm/
.0005”
.001mm/
.0005”
.001mm/
.0005”
Accuracy of measuring system in microns max error (3+L/300) (3+L/300) (3+L/200) (3+L/200)
Measuring system Incremental scale all models
Squareness & Straightness

Max error front side

 

.003mm

.006mm

 

.004mm

.008mm

 

.006mm

.010mm

 

.008mm

.012mm

Measuring force Constant under motor control / adjustable
Display 4 Lines LCD alpha/numeric
Printer Integral/Dot matrix

Output available to A3/4 model

Program storage Integral or via remote storage device
Dual probe holders 300mm 350mm 350mm 350mm
Air pressure In built pump (variable)
Power supply Battery powered/mains adaptor 110 or 240V
Battery Re-chargeable 30 hours between charges under normal usage
All measurements to comply with specification to be taken at 20”C with probe tip of maximum 55mm from holder.

Measuring range

  MV 300/600 MV 500/850 MV 750/110 MV 1000/1350
1 300mm

11.81”

512mm

20.14”

762mm

30.00”

1012mm

39.84”

2 5mm

0.2”

5mm

0.2”

5mm

0.2”

5mm

0.2”

3  305mm

12.00”

517mm

20.34”

767mm

30.2”

1017mm

40.04”

4 300mm

11.81”

350mm

13.78”

350mm

13.78”

3,50mm

13.78”

5 605mm

23.82”

867mm

34.13”

1057mm

41.61”

1367mm

53.82”

Relaterede varer

Zeiss Eclipse CMM 7 7 5

Zeiss Eclipse CMM 7 7 5

Kategorier ,
Mitutoyo Crysta-Plus 574

Mitutoyo Crysta-Plus 574

Kategorier ,
DEA Global 123010

DEA Global 123010

Kategorier ,
Zeiss Eclipse Front

Zeiss Eclipse 1000x1600x600

Kategorier ,

Send forespørgsel